荧光量子效率测量系统

XPQY-EQE是一款紧凑而易用的仪器,用于测量光致发光材料的荧光量子效率和电致发光材料的外量子效率。它能胜任绝对量子效率的测量,而且无需传统相关方法所必需的已知参考标准。不同形式的样品,包括薄膜、固体、粉末和溶液等均能被分析。

系统特点:

Ø  测量发光材料光致发光的绝对量子效率和电致发光外量子效率

Ø  在开发新的发光材料过程中,提高他们的光致发光效率是至关重要的。提高该效率就需要测量量子效率的精确技术。XPQY-EQE系统由稳定的激发模块、特殊定制的积分球模块、高性能光谱测量模块和专业的系统软件组成。可以对溶液、薄膜和粉末样品进行快速、准确的测量。

Ø  光致发光过程发射光子数与发光材料吸收光子数的比值

Ø  瞬时测量,所有波长的光信号同时测量,有多种波长的激光器可供选择

Ø  能处理溶液、薄膜和粉末样品

Ø  测定发光材料的绝对光致发光量子效率(光致发光测量)

Ø  测量LED或其他电致发光材料的光功率和电功率,计算外量子效率

Ø  激发波长可以灵活选择

应用领域

Ø  量子效率测量能在诸多领域满足开发和研究的应用需求。典型应用包括:有机EL材料、白光LEDFPD荧光粉等多种类型的发光材料的性能提升,有机金属复合物的研究,染料敏化型太阳能电池的基础特性评估,生物领域的荧光探针效率测量等。

Ø  有机金属复合物、荧光探针、染料敏化型PV材料

Ø  OLED材料、量子点材料,QLEDLED荧光粉

 

系统参数:

产品名称

荧光量子效率测量系统

产品型号

XPQY-EQE

QY光谱范围

200-1100nm(定制)

测量时间

小于1秒

积分球

3.3英寸量子效率测量专用

QY激发光波长

350-750nm

PL谱激发波长范围

300-750nm

检测器

高灵敏度多通道CCD

软件功能

QY;PL;EQE;EL;I-V曲线测量;I-E曲线测量;恒流恒压电致发光老化测量;电流密度,辐亮度,光亮度,色度值测量等等

成功案例

1、量子点发光材料(CdSe 量子点,C 量子点,钙钛矿量子点);

2、有机发光材料;

3、聚集诱导发光材料

4、光致变色发光材料;

5、钕玻璃;

6、荧光粉;

7、荧光素;

8、稀土掺杂光纤材料;

9、上转换材料等

 

特别感谢华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室,叶轩立组黎振超博士使用我司XPQY-EQE在Nature子刊发表文章:

荧光量子效率测量系统

荧光量子效率测量系统


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