近红外全角度透反射测量系统
材料中的很多成份，以不同角度入射，得到的透射率和反射率会因入射角度变化而变化。通过测量不同角度入射，可获取材料在正入射时得不到的信息，确定材料的最敏感角度，为进一步的研究或设计测量仪器提供依据。 XPNIR-RTM-A1全角度光谱测量台搭配光谱仪和其他测量附件，可以实现不同角度入射和接收，适用于mm量级样品的光谱测量系统。采用电控独立双轴设计，高精度步进电机，发射端和接收端的角度，角分辨率达0.001°，重复精度达0.05°。光谱范围覆盖900-2500nm，通过软件控制发射端和接收端的角度，实现快速的光谱测量，可用于透射/反射/散射/荧光/辐射等多种全角度模式的光谱测量。 应用领域： ² 光子晶体器件 ² LED光源 ² 液晶显示 ² 纳米光学材料 ² 材料镀膜 ² 角度相关材料分析 ² 传感器器件制备 主要特点： ² 全角度测量：反射和透射，可以实现-90°至90°范围测量，散射、荧光和辐射，可以实现0°至180°测量。 ² 精确角度控制：高精度电机，角度精度达0.05° ² 快速测量：快速对样品实现多种角度模式的光谱测量 ² 多种角度测量模式：可以进行反射、透射、荧光、散射辐射等多种光谱测量 ² 可选配件多样：根据客户的不同测量应用，可以选择不同的光源、滤光片、偏振片等配件完成不同的测量应用 ² 多维调节样品台：样品台由高精度三维位移台和三维旋转台组成，可实现样品的6维调节光谱角度测量模式：反射式角度测量模式，镜面样品的反射夹角0°~180°，实现光谱的全角度测量。透射式角度测量模式：入射角-90°~90°，接收角和入射角成180°（同一直线），实现透射光谱的全角度测量。散射和荧光角度测量模式：入射角-90°~90°的任意角度上变化，接收角0°~360°范围内变化，实现散射和荧光光谱的全角度测量。 辐射角度测量模式：接收角0~360°范围内变化。 参数指标产品名称近红外全角度透反射测量系统产品型号XPNIR-RTM-...
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